
Die 14.5 GHz Elektron-Zyklotron-Resonanz Ionenquelle am Institut für Allgemeine Physik zur Erzeugung hochgeladener Ionen
- Motiv: "Die 14.5 GHz Elektron-Zyklotron-Resonanz Ionenquelle am Institut für Allgemeine Physik zur Erzeugung hochgeladener Ionen"
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Die Aufnahme einer Kalziumfluorid - Einkristalloberfläche mit dem Rasterkraftmikroskop zeigt "hügelartige" Nanostrukturen, die durch den Beschuss mit einzelnen, langsamen, 33-fach geladenen Xenon-Ionen enstanden sind
- Motiv: "Die Aufnahme einer Kalziumfluorid - Einkristalloberfläche mit dem Rasterkraftmikroskop zeigt "hügelartige" Nanostrukturen, die durch den Beschuss mit einzelnen, langsamen, 33-fach geladenen Xenon-Ionen enstanden sind"
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Simulationsrechnungen zeigen welche Energiedichte durch den Beschuss mit hochgeladenen Xenon-Ionen nahe der Oberfläche deponiert wird. Im gelb gekennzeichneten Bereich ist sie hoch genug, um das Material zum Schmelzen zu bringen (Phasenübergang)
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Friedrich Aumayr
- Motiv: "Friedrich Aumayr"
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Technische Universität Wien

